中国仪器仪表学会学术年会｜精密光谱分析系统和方法应用分论坛征文通知

中国仪器仪表学会多国仪器仪表展

　　2020年中国仪器仪表学会学术年会(简称年会)由中国仪器仪表学会、国务院学位委员会仪器科学与技术学科评议组、教育部高等学校仪器类专业教学指导委员会主办，上海交通大学承办。会议旨在仪器仪表学科的基础研究方向、技术创新及产业路径的深入探讨。拓展学科边界，搭建开发、共融、互通、和谐的交流平台。

　　年会现定于2020年8月28-30日在上海富悦大酒店召开，欢迎国内外广大科技者及各界人士踊跃投稿并出席此次会议。

一、

论文参考选题范围

包括但不限于以下方面精密光谱分析系统和方法应用研究的论文。

1、光谱分析技术与系统研究；

2、激光及精密测量应用研究；

3、超快光学技术与系统研发；

4、高分辨成像系统与应用；

5、高分辨频梳系统与应用。

二、投稿须知

1. 投稿论文应是未发表或2018年1月1日之后发表的论文。

2. 论文交流方式包括：

(1)所有投稿论文经审核通过，将在论文集发表;

(2)优秀论文作现场报告或墙报交流;

(3)未正式发表的投稿论文经审核通过可向《仪器仪表学报》、《自动化仪表》、《光学仪器》、《功能材料》和《工程与试验》等期刊推荐发表。

3.论文投稿网址http://thesis.cis.org.cn/（点击“阅读原文”），具体论文格式见投稿网站要求。

4.期刊投稿的论文由期刊编辑部评审，将在6月15日前回复录用结果，通过评审的论文可安排优先发表。

三、

重要时间

论文提交截止时间：2020年5月15日

论文评审结束时间：2020年6月15日

四、

联系我们

联系人：金钻明

电话：13636314952

E-mail：physics_jzm@usst.edu.cn

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