国庆献礼:北航程群峰,今日Science!
原创
nanoyu
纳米人
纳米人
微信号
nanoer2015
功能介绍
科研无止境
第一作者:sijie Wan,Xiang Li,Ying Chen
通讯作者:程群峰
通讯单位:北京航空航天大学
研究背景
层状碳化钛(Ti
3
C
2
T
x
)材料是一种经典的MXenes材料,可用于柔性电极和电磁干扰(EMI)屏蔽等,此外,还因其金属导电性和机械性能而极具应用潜力。而实现这些应用的前提是将Mxene片组装成高性能的宏观Mxene薄膜。其中,
层间相互作用、排列和致密性是实现二维(2D)薄片高性能组装的三个关键结构因素。
研究表明,丰富的表面官能团(其中T
x
可以是-F、=O或-OH)可用于设计Mxene片之间通过氢、离子和共价键等的相互作用。然而,在组装MXene薄膜时,人们
通常忽略了取向和致密性,这限制了其机械和电学性能的提高
。
聚多巴胺可用于将Mxene片桥接成排列好的MXene薄膜,从而提高抗拉强度和导电性。此外,一种刀片涂层的方法也被证明可以提高MXene薄膜的取向、拉伸强度和导电性。然而,随着薄膜厚度从940 nm增加到2.4 mm,其性能开始降低。
成果简介
有鉴于此,
北京航空航天大学程群峰教授
报道了通过氢键和共价键合剂的顺序桥来接诱导MXene薄膜的致密化和空洞的去除,从而获得高致密的MXene薄膜。所得MXene薄膜具有较高的抗拉强度,同时也兼具高韧性、导电性和EMI屏蔽性能。此外,该技术为将其他2D薄片组装成高性能薄膜提供了新的途径。
要点1 SBM薄膜制备和结构表征
研究人员演示了一种MXene致密化策略,
即使用氢和共价键的顺序桥接过程
(图1 A和E)。采用Ti
3
AlC
2
MAX相选择性刻蚀Al层的方法剥离Ti
3
C
2
T
x
MXene薄片。然后,制备了四种具有不同羧甲基纤维素钠(CMC)含量的氢键MXene薄膜。结果显示,CMC含量为10% (wt%)时效果最佳。在CMC含量为10% wt %的固定条件下,随着硼含量的增加,制备了四种顺序桥接MXene (SBM)薄膜(SBM-I至SBM-IV)。此外,为了进行比较,采用相同的浸渍、漂洗和退火工艺对MXene膜进行处理,制备了相应的共价键桥的MXene膜(CBM)。
研究人员比较了HBM-II、CBM-III和SBM-III的结构和性能。聚焦离子束(FIB)切割MXene薄膜截面的SEM图像(图1B)显示,MXene片之间存在大量空隙。得益于共价键可以更紧密地连接相邻的Mxene薄片,CBM薄膜具有比MXene薄膜有更少的空隙。然而,由于小的硼酸盐离子不能连接MXene片之间的大间隙,CBM薄膜仍然有一些大规模的空隙。而由于CMC的填充和结合以及硼酸盐离子的共价桥接引起的协同致密作用,图1F显示,
SBM薄膜显示出最致密的堆积
。研究人员使用FIB和SEM断层扫描()重建了MXene和SBM薄膜的三维空洞微结构(FIB/SEMT;图1, C和G),和纳米级x射线计算机断层扫描(nano-CT;图1, D和H)。结果显示,
SBM薄膜的孔隙率低于MXene薄膜
。广角X射线散射测量表明,顺序桥联过程改善了Mxene片的取向。SBM膜具有比MXene膜更光滑的表面。XRD谱图证实了CMC和硼酸根离子在真空退火过程中插入了MXene中间层,并消除了夹层水。此外,FTIR和XPS证实了Mxene片与CMC分子之间的氢键作用。同时,NMR和FTIR光谱图证实了硼酸根离子与CMC分子和MXene表面的羟基发生了共价交联。
图1 SBM薄膜的结构表征
要点2力学性能和导电性
由于氢键和共价键合剂可以诱导致密化和加强层间相互作用,因此HBM和CBM薄膜的力学性能都得到了改善。而
由于氢键和共价粘结剂的协同致密化作用,SBM薄膜表现出最高的力学性能
,其拉伸强度为583±16 MPa,杨氏模量为27.8±2.8 GPa,韧性为15.9±1.0 MJ/m
3
(图2B)。MXene、CBM、HBM和SBM薄膜断口的斜视扫描电镜图像(图2C)显示,桥联的MXene薄膜表现出卷曲的断口边缘,而非桥联Mxene薄膜表现出平坦的断口边缘,证实了桥联 MXene 薄膜中改进的层间相互作用。此外,桥联的 MXene 薄膜比未桥联的 MXene 薄膜具有更高的抗超声损伤能力。
由于绝缘 CMC 分子插入 MXene 夹层,HBM 薄膜(6049 ± 64 S/cm)的导电率低于 MXene 薄膜(9468 ± 115 S/cm)。与 MXene 薄膜相比,CBM 薄膜具有相当的电导率。同样,SBM 薄膜 (6115 ± 62 S/cm) 的电导率略高于 HBM 薄膜。SBM 薄膜的电导率可与一些纯 MXene 薄膜的电导率相比,并高于先前报道的 MXene 复合薄膜(图 2B)。
图2 SBM薄膜的力学性能
要点3 EMI屏蔽性能及其抗疲劳、抗氧化和应力松弛性能
良好的导电性使3.0 mm厚的SBM薄膜在0.3-18 GHz范围内具有高达56.4 dB的电磁屏蔽效率(EMI SE)(图3A)。此外,SBM膜的EMI SE略高于3.2 mm厚的HBM膜(55.7dB),但低于3.1 mm厚的CBM膜(61.3dB)和3.4 mm厚的HBM膜(60.9 dB)。此外,研究人员还使用了一个可靠的参数(SSE/t,SSE为屏蔽效率,t为厚度)来评价SBM薄膜的整体屏蔽性能。结果显示,
SBM薄膜的SSE/t为62458 dB cm
2
/g,高于大多数固体屏蔽材料的SSE/t
。
由于桥联致密化减少了初始裂纹,而粘结剂引起的桥联和塑性变形机制抑制了裂纹的扩展,因此桥联MXene薄膜比未桥联MXene薄膜具有更高的抗疲劳性能。具体而言,
SBM薄膜具有最高的抗疲劳性能,在390~420 MPa的应力下可拉伸42万次以上,折叠100次后仍保持91.5%的原始电导率
。
结构缺陷还可以促进氧气和水渗透到MXene薄膜中,加速其氧化。基于此,研究人员对不同薄膜的电导率进行了监测,以评估其在相对湿度为100%的潮湿空气中的抗氧化性能(图3E)。结果显示,Mxene桥联薄膜的电导保持率高于非桥联Mxene薄膜,因此,桥联Mxene薄膜比非桥联Mxene薄膜具有更高的抗氧化性。不同MXene薄膜的抗氧化性随薄膜致密性的增加而单调增加,即
SBM>CBM>HBM>MXene
。此外,由于改进的层间结合和紧密的薄片堆叠可以抑制 MXene 薄片在松弛过程中的滑动,因此桥接的 MXene 薄膜比未桥接的 MXene 薄膜具有更高的抗应力松弛性能。
SBM 薄膜具有最高的抗应力松弛性能,在 1.5% 应变下松弛后可以保持 67.5% 的初始应力。
图3 SBM薄膜的电磁屏蔽性能及其抗疲劳、抗氧化和应力松弛性能
要点4大面积SBM薄膜
研究人员采用刮片 (doctor blade,DB) 浇铸代替缓慢的真空辅助过滤,成功制造出大面积 SBM 薄膜(23 × 14 cm
2
)和 3.4 ± 0.1 μm 的厚度(图 4 A,B )。这些 SBM (DB)薄膜的拉伸强度为 559 ± 10 MPa(图 4C),杨氏模量为 26.8 ± 1.3 GPa,韧性为 16.6 ± 1.0 MJ/m 3,电导率为5976±68 S/cm,分别为真空辅助过滤制备的小尺寸SBM薄膜(SBM(VF))的95.9%、96.4%、104.4%和97.7%。此外,在潮湿空气中储存 10 天后,SBM 薄膜比 MXene 薄膜具有更高的屏蔽容量保持率和更高的 EMI SE(图 4,E 和 F)。因此,
这些具有优异机械性能的高度抗氧化、可扩展的 SBM 薄膜在用作便携式和可穿戴电子器件的屏蔽材料方面比 MXene 薄膜具有更大的潜力
。
图4 DB浇铸制备的大面积SBM薄膜的性能和湿空气中存放的SBM薄膜的EMI SE
小结
1)
通过氢键和共价键合剂的连续桥联来有效地去除空隙,从而得到了高度致密的SBM薄膜。
2)
SBM薄膜具有较高的抗拉强度,同时具有较高的杨氏模量、韧性和抗超声损伤、循环机械变形、氧化和应力松弛。
3)
SBM薄膜具有良好的导电性和EMI屏蔽性能。
参考文献
Sijie Wan, et al, High-strength scalable MXene films through bridging-induced densification, Science, 2021
DOI: 10.1126/science.abg2026
https://www.science.org/doi/10.1126/science.abg2026
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