低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的装置及方法

• 摘要：

  一种低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的装置及方法,属于分析检测技术领域,包括以下步骤:(1)选取汞的检测波长与背景校正波长;(2)绘制汞标准工作曲线;(3)测定待测溶液的汞含量;低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的方法所采用的装置,包括蒸气发生进样系统、低温等离子体发生室、高频高压电源和光谱仪.本发明的有益效果是:介质阻挡放电的低温等离子体激发光源,无高温环境存在,大大降低了能耗,并使其供能系统简单,造价低廉且日常运行消耗很低.

• 专利类型：

  发明专利

• 申请/专利号：

  CN200810011420.4

• 申请日期：

  2008.05.16

• 公开/公告号：

  CN101281135

• 公开/公告日：

  2008-10-08

• 发明人：

  王建华 于永亮 杜卓 陈明丽

• 申请人：

  东北大学

• 主分类号：

  G01N21/73(2006.01)I,G,G01,G01N,G01N21

• 分类号：

  G01N21/73(2006.01)I,G,G01,G01N,G01N21,G01N21/73

• 主权项：

  1. 一种低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的装置,其特征在于包括蒸气发生进样系统(1)、低温等离子体发生室(2)、高频高压电源(3)和光谱仪(4);所述的蒸气发生进样系统(1)中设有载流入口(11),样品入口(12),还原剂入口(13),载气入口(14),蒸气发生出口(15),废液出口(16),通过蒸气发生进样系统的软件程序控制该系统进行蒸气发生反应,产生汞蒸气;所述的低温等离子体发生室(2)中设有蒸气入口(21),蒸气出口(22),电极(23),蒸气发生出口(15)与蒸气入口(21)相连;所述的高频高压电源(3),电压输入端(31)接外部电压,电压输出端(32)接低温等离子体发生室(2)的电极(23);所述光谱仪(4)的狭缝口(41)正对等离子体发生室(2)的蒸气出口(22),通过计算机控制光谱仪采集低温等离子体发射光谱区域(25)内的特定波长光谱强度.