一种基于CCD的高精度带材偏移检测装置

• 摘要：

  本实用新型涉及一种基于CCD的高精度带材偏移检测装置,包括红外发射装置和红外接收装置,所述红外发射装置和红外接收装置分别固定在传输中的带材边沿两端,红外发射装置和红外接收装置的固定位置相互对应,红外发射装置、被检测的带材和红外接收装置的位置相互平行,所述红外接收装置包括线阵CCD组单元.由于本实用新型引入了红外线阵CCD技术,使用红外光作为检测介质,排除了外界光源的干扰,有效地避免了在工厂环境中的各类光线对测量结果的干扰.此外,由于红外线阵CCD具有高密度集成特征,因此,本实用新型能够得到相当高的测量精度,其精度可达0.001mm,能够有效地满足硅钢生产线等具有高精度特殊要求的生产线的偏移检测需要.

• 专利类型：

  实用新型

• 申请/专利号：

  CN201220473625.6

• 申请日期：

  2012.09.17

• 公开/公告号：

  CN202814346U

• 公开/公告日：

  2013-03-20

• 发明人：

  肖攸安 杜夏 王霄鹏 王晶 王伟 张润 戴晓云

• 申请人：

  武汉理工大学

• 主分类号：

  G01B11/02(2006.01)I,G,G01,G01B,G01B11

• 分类号：

  G01B11/02(2006.01)I,G,G01,G01B,G01B11,G01B11/02

• 主权项：

  、一种基于CCD的高精度带材偏移检测装置,包括红外发射装置和红外接收装置,其特征在于:所述红外发射装置和红外接收装置分别固定在传输中的带材边沿两端,红外发射装置和红外接收装置的固定位置相互对应,红外发射装置、被检测的带材和红外接收装置的位置相互平行.