一种基于孔径变形原理的光学显微地应力测量装置

• 摘要：

  本发明公开了一种基于孔径变形原理的光学显微地应力测量装置,包括多触针测量部件和光学显微成像部件,所述的多触针测量部件中成对安装着多组触针,触针的触头与钻孔孔壁接触,感知孔径的变化,而触针的针尖端则集中在一个微小区域内,与触头的变化同步;所述的光学显微成像部件是一个带有视窗和光源窗的密封筒体,摄像机、显微镜头、数字罗盘和环状光源都位于其中;所述的多触针测量部件和光学显微成像部件通过丝扣连接在一起,且显微镜头通过视窗对准包含触针尖端的微小区域.总之,本发明提供了一种利用多触针孔径变形感知结构和光学显微测量技术的地应力测试装置,实现了同步多组测试的能力.该方法设计巧妙,构思严密,结构简单,易于实施.

• 专利类型：

  发明专利

• 申请/专利号：

  CN201410555291.0

• 申请日期：

  2014.10.17

• 公开/公告号：

  CN104279976A

• 公开/公告日：

  2015-01-14

• 发明人：

  王川婴 韩增强 胡胜

• 申请人：

  中国科学院武汉岩土力学研究所

• 主分类号：

  G01B11/16(2006.01)I,G,G01,G01B,G01B11

• 分类号：

  G01B11/16(2006.01)I,G01L1/24(2006.01)I,G,G01,G01B,G01L,G01B11,G01L1,G01B11/16,G01L1/24

• 主权项：

  一种基于孔径变形原理的光学显微地应力测量装置,包括光学显微成像部件(2),其特征在于,还包括多触针测量部件(1),多触针测量部件(1)包括壳体(16),壳体(16)的外壁设置有触针安装孔(29),触针安装孔(29)的触针安装孔沿(2901)设置有若干个限位卡(13),各个限位卡(13)构成限位穿孔,触针安装孔(29)的触针安装孔底(2902)开设有触针尖端穿孔(2903),触针安装孔(29)内设置有触针(11),触针(11)包括依次连接的触头(111)、触杆(113)、触杆弹簧杆(114)和触针尖端(112),触头(111)穿过限位穿孔,触针尖端(112)穿过触针安装孔(29)进入到壳体(16)内部的容腔(14),触杆弹簧杆(114)上套设有弹簧(12),弹簧(12)的两端分别与触杆(113)和触针安装孔底(2902)相抵.