• 一种基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法及其系统

    • 摘要:

      本发明涉及一种基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法及其系统,所述方法包括:S1、将检测插件置入到Eclipse平台;S2、在所述检测插件的模式数据库中选择预设的缺陷模式和存储路径;S3、根据所选择的缺陷模式和存储路径,选择所述Eclipse平台中待测试java文件和/或待测试工程并执行检测;S4、分析处理检测结果.该方法可以在Java开发环境下直接进行代码缺陷的检测,从而提高了软件开发测试的效率.

    • 专利类型:

      发明专利

    • 申请/专利号:

      CN201410610811.3

    • 申请日期:

      2014.11.03

    • 公开/公告号:

      CN104461864A

    • 公开/公告日:

      2015-03-25

    • 发明人:

      宫云战 朱红 金大海 黄俊飞 王雅文 张大林

    • 申请人:

      北京邮电大学

    • 主分类号:

      G06F11/36(2006.01)I,G,G06,G06F,G06F11

    • 分类号:

      G06F11/36(2006.01)I,G,G06,G06F,G06F11,G06F11/36

    • 主权项:

      一种基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括:S1、将检测插件置入到Eclipse平台;S2、在所述检测插件的模式数据库中选择预设的缺陷模式和存储路径;S3、根据所选择的缺陷模式和存储路径,选择所述Eclipse平台中待测试java文件和/或待测试工程并执行检测;S4、分析并处理检测结果.