• 一种可加电、磁场的透射电子显微镜样品杆

    • 摘要:

      本发明公开了一种可加电、磁场的透射电子显微镜样品杆,包括样品杆头、样品杆身、手握柄,所述的样品杆身由同轴设置的前端细杆和后端粗杆组成,所述的样品杆头设有载物台,载物台上设置有微型电磁铁以及微加工方式制作电学测试芯片;所述的样品杆身中,前端细杆与后端粗杆通过密封圈连接,前端细杆与样品杆头连接,后端粗杆与手握柄连接.本发明可以在电、磁场下直接原位观察低维磁性结构的单体输运性质,最终实现在纳米甚至原子尺度上理解低维磁结构磁相互作用机制和动态磁性调控机理.

    • 专利类型:

      发明专利

    • 申请/专利号:

      CN201510275642.7

    • 申请日期:

      2015.05.26

    • 公开/公告号:

      CN104916516A

    • 公开/公告日:

      2015-09-16

    • 发明人:

      彭勇 郑修军 朱士猛 张军伟 马鸿斌 关超帅 杨保林 胡阳 薛德胜

    • 申请人:

      兰州大学

    • 主分类号:

      H01J37/20(2006.01)I,H,H01,H01J,H01J37

    • 分类号:

      H01J37/20(2006.01)I,G01N23/04(2006.01)I,H,G,H01,G01,H01J,G01N,H01J37,G01N23,H01J37/20,G01N23/04

    • 主权项:

      一种可加电、磁场的透射电子显微镜样品杆,包括样品杆头(1)、样品杆身、手握柄(4),所述的样品杆身由同轴设置的前端细杆(2)和后端粗杆(3)组成,其特征在于:所述的样品杆头(1)设有载物台(5),载物台(5)上设置有微型电磁铁(6)及微加工方式制作电学测试芯片所述的样品杆身中,前端细杆(2)与后端粗杆(3)通过密封圈(14)连接,前端细杆(2)与样品杆头(1)连接,后端粗杆(3)与手握柄(4)连接.