• 一种基于在屏幕空间计算间接反射高光的渲染方法

    • 摘要:

      本发明公开了一种基于在屏幕空间计算间接反射高光的渲染方法,包括以下步骤:对场景进行渲染,并将渲染结果中的基本场景信息作为纹理缓存预存起来;基于获得的纹理缓存使用重要性采样对BRDF函数进行屏幕空间中的光线追踪获得与渲染场景的采样交点;根据采样交点的信息通过进行Mip-Map操作来获得该采样点领域内的区域材质近似信息;利用该材质信息通过vMF分布函数方法计算获得对应的拟合BRDF函数,基于该函数信息计算获得采样方向的光照计算结果;使用每个方向对应的重要性采样权重对计算所得的数据进行加和得到该像素点最终的渲染结果.本发明在不降低渲染效率的前提下,提高间接高光光照计算的准确度.

    • 专利类型:

      发明专利

    • 申请/专利号:

      CN201510594703.6

    • 申请日期:

      2015.09.18

    • 公开/公告号:

      CN105261059A

    • 公开/公告日:

      2016-01-20

    • 发明人:

      鲍虎军 王锐 徐超 胡天磊

    • 申请人:

      浙江大学

    • 主分类号:

      G06T15/06(2011.01)I,G,G06,G06T,G06T15

    • 分类号:

      G06T15/06(2011.01)I,G06T15/50(2011.01)I,G,G06,G06T,G06T15,G06T15/06,G06T15/50

    • 主权项:

      一种基于在屏幕空间计算间接反射高光的渲染方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)对目标场景进行初步渲染,得到摄像机视角下,每个屏幕空间像素点对应的目标场景颜色、目标场景中每个几何点的空间位置和法向向量;(2)每个屏幕空间像素点对应目标场景中的一个几何点,该几何点的材质使用vMF分布函数表示的BRDF函数表达,利用各个几何点的法向量与相应的vMF分布函数参数的乘积构建Mip?map纹理;(3)依据每个屏幕空间像素点对应的目标场景颜色、目标场景中每个几何点的空间位置和法向向量、以及Mip?map纹理在屏幕空间进行绘制,对于每个绘制点,依据该绘制点的材质信息使用重要性采样方法生成入射光线的采样方向,沿着每个采样方向使用光线追踪技术在屏幕空间中计算得到每个采样方向与目标场景的交点;(4)对于每个交点,利用重要性采样权重计算该采样方向所对应的立体角大小,并依据立体角大小和摄像机与交点的距离,计算该采样方向在屏幕空间中对应的Mip?map级别;(5)利用步骤(4)所得Mip?map级别对步骤(2)中的Mip?map纹理进行Mip?map采样,得到求和后的某一区域内目标场景几何点的法向量与相应的vMF分布函数参数的乘积,利用譀¥乘积计算该区域的材质所对应的BRDF函数的参数,所述区域为采样方向对应的立体角投影到目标场景所形成的区域;(6)在不同的光照环境下,利用每个屏幕空间像素点对应的目标场景颜色、以及相应材质所对应的BRDF函数的参数,计算采样方向的光照结果;(7)将计算得到的各采样方向的光照结果按照重要性采样权重进行加权求和,并依据求和结果对目标场景进行渲染.