• 一种适用于白天观测的全波段高分辨力成像光学望远镜

    • 摘要:

      本发明公开了一种适用于白天观测的全波段高分辨力成像光学望远镜,包括主成像望远镜、粗跟踪系统、复合轴跟踪系统、自适应光学系统和成像系统,其中,粗跟踪系统控制主成像望远镜机架稳定跟踪探测目标,从目标来的光经过主成像望远镜系统后进入复合轴跟踪系统进行低阶倾斜校正,校正后的目标光进入自适应光学系统进行高阶误差校正,高阶误差校正后的目标光进入成像系统进行高分辨力成像,成像系统包括多个不同波段的成像探测器,可实现对目标的全波段高分辨力成像.

    • 专利类型:

      发明专利

    • 申请/专利号:

      CN201610624637.7

    • 申请日期:

      2016.08.01

    • 公开/公告号:

      CN106019562A

    • 公开/公告日:

      2016-10-12

    • 发明人:

      张雨东 张学军 鲜浩 周金梅 周璐春 廖胜

    • 申请人:

      中国科学院光电技术研究所

    • 主分类号:

      G02B23/06(2006.01)I,G,G02,G02B,G02B23

    • 分类号:

      G02B23/06(2006.01)I,G02B23/16(2006.01)I,G02B23/00(2006.01)I,G05D3/12(2006.01)I,G,G02,G05,G02B,G05D,G02B23,G05D3,G02B23/06,G02B23/16,G02B23/00,G05D3/12

    • 主权项:

      一种适用于白天观测的全波段高分辨力成像光学望远镜,其特征在于:包括白天粗跟踪系统(1)、主成像望远镜(2)、复合轴跟踪系统(3)、自适应光学系统(4)和成像系统(5),其中,白天粗跟踪系统(1)引导主成像望远镜对探测目标实现稳定跟踪;来自目标的光从主成像望远镜(2)进入复合轴跟踪系统(3)进行低阶误差校正,复合轴跟踪系统包括第一倾斜校正器(①)、第二倾斜校正器(④)、白天跟踪误差探测控制系统(③)、一个第一分光镜(②)和多个反射镜,目标光经过复合轴跟踪系统(3)后进入自适应光学系统(4)进行高阶误差校正,自适应光学系统(4)包括第三倾斜校正器(⑤)、变形反射镜(⑥)、一个第二分光镜(⑧)和白天自适应光学探测控制系统(⑦),经过高阶误差校正后的目标光进入成像系统(5)进行全波段成像.