一种基于纳米银膜的光压传感器及其光压检测方法

• 摘要：

  本发明公开了一种基于纳米银膜的光压传感器及其光压检测方法,其特征是:设置一筒体,在筒体的一端支撑有纳米银膜,在筒体的另一端插入柱状插芯,纳米银膜与柱状插芯之间形成一筒状振动光压腔;柱状插芯中固定有光纤,光纤贯穿所述柱状插芯;光纤的插入端光纤端面为斜面;通过光纤传输检测光和产生待测光压的光信号.本发明体积微型化,光压检测为全光结构,且检测灵敏度高,能适用于多种环境的光压检测.

• 专利类型：

  发明专利

• 申请/专利号：

  CN201410023274.2

• 申请日期：

  2014.01.17

• 公开/公告号：

  CN103728017A

• 公开/公告日：

  2014-04-16

• 发明人：

  徐峰 徐翠萍 时金辉 冯飞 俞本立

• 申请人：

  安徽大学

• 主分类号：

  G01J1/56(2006.01)I,G,G01,G01J,G01J1

• 分类号：

  G01J1/56(2006.01)I,G,G01,G01J,G01J1,G01J1/56

• 主权项：

  一种基于纳米银膜的光压传感器,其特征是:设置一筒体(11),在所述筒体(11)的一端支撑有纳米银膜(13),在所述筒体(11)的另一端插入柱状插芯(10),所述纳米银膜(13)与所述柱状插芯(10)之间形成一筒状振动光压腔(12);所述柱状插芯(10)中固定有光纤(3),所述光纤(3)贯穿所述柱状插芯(10);所述光纤(3)位于振动光压腔(12)中的光纤端面(14)为斜面;通过光纤(3)传输检测光和产生待测光压的光信号.