• 一种应用辉光放电质谱分析非导体材料的新方法

    • 摘要:

      本发明公开了一种应用辉光放电质谱分析非导体材料的新方法,其包括如下具体步骤:a)将待分析的非导体材料加工成条状样品;b)清洗条状样品,烘干;c)将金属铟置入石英坩埚中,加热至熔融状态;d)使条状样品表面包覆一层金属铟膜;e)再次清洗条状样品,烘干;f)进行直流辉光放电质谱分析.使用本发明的分析方法:无需研磨样品,无需抛光,前处理简单,避免了污染;操作简便,大大减少了金属铟的使用量,降低了分析成本;放电与导体样品类似,容易稳定且信号稳定性好,信噪比(S/N)理想,缩短了分析时间和提高了分析效率;能适合块状或晶体材料的分析,普适性强,应用范围广;具有很好的放电稳定性以及分析重复性.

    • 专利类型:

      发明专利

    • 申请/专利号:

      CN201010606816.0

    • 申请日期:

      2010.12.27

    • 公开/公告号:

      CN102175754A

    • 公开/公告日:

      2011-09-07

    • 发明人:

      钱荣

    • 申请人:

      中国科学院上海硅酸盐研究所

    • 主分类号:

      G01N27/68(2006.01)I,G,G01,G01N,G01N27

    • 分类号:

      G01N27/68(2006.01)I,G,G01,G01N,G01N27,G01N27/68

    • 主权项:

      一种应用辉光放电质谱分析非导体材料的新方法,其特征在于,包括如下具体步骤:a)将待分析的非导体材料加工成条状样品;b)清洗条状样品,烘干;c)将金属铟置入石英坩埚中,加热至熔融状态;d)使条状样品表面包覆一层金属铟膜;e)再次清洗条状样品,烘干;f)进行直流辉光放电质谱(dc?GD?MS)分析.