预测试样尺寸对疲劳寿命影响的方法

• 摘要：

  本发明公开一种预测试样尺寸对疲劳寿命影响的方法,包括通过寿命与应力之间的函数关系,将不同应力水平下的疲劳寿命转化为同一应力水平下的寿命;对同一应力下的疲劳寿命进行统计分析,确定其最服从的概率分布形式;计算小试样和大试样的控制体积,确定大试样与小试样控制体积之比;大试样的疲劳寿命N^L由同应力下小试样的疲劳寿命N的n次Monte Carlo模拟获得,即N^L＝min{N₁,N₂,…,N_n};获得大试样在同一应力下多个疲劳寿命数据;获得大试样在不同应力下的疲劳寿命数据;对获得的大试样疲劳寿命数据进行统计分析,得出P‑S‑N曲线.有效克服大试样疲劳实验费时、费力的缺点.

• 专利类型：

  发明专利

• 申请/专利号：

  CN201610059873.9

• 申请日期：

  2016.01.28

• 公开/公告号：

  CN105716935A

• 公开/公告日：

  2016-06-29

• 发明人：

  洪友士 孙成奇 刘小龙

• 申请人：

  中国科学院力学研究所

• 主分类号：

  G01N3/00(2006.01)I,G,G01,G01N,G01N3

• 分类号：

  G01N3/00(2006.01)I,G,G01,G01N,G01N3,G01N3/00

• 主权项：

  一种预测试样尺寸对疲劳寿命影响的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,通过寿命与应力之间的函数关系,将不同应力水平下的疲劳寿命转化为同一应力水平下的寿命;步骤2,对同一应力下的疲劳寿命进行统计分析,确定其最服从的概率分布形式;步骤3,计算小试样和大试样的控制体积,确定大试样与小试样控制体积之比;步骤4,大试样的疲劳寿命N^L由同应力下小试样的疲劳寿命N的n次Monte Carlo模拟获得,即N^L＝min{N₁,N₂,…,N_n};步骤5,重复步骤4,获得大试样在同一应力下多个疲劳寿命数据;步骤6,重复步骤5,获得大试样在不同应力下的疲劳寿命数据;步骤7,对获得的大试样疲劳寿命数据进行统计分析,得出P‑S‑N曲线.