针尖下的多铁：在纳米尺度上探测磁电耦合学术资讯

来源：中国科学杂志社

新兴的扫描探针显微技术（SPM）为材料纳米尺度表征提供了新的手段：我们可以在纳米尺度上表征和调控材料的微观结构及局域响应。SPM已成为多铁材料纳米尺度磁电耦合行为探测和调控的重要手段，但依然有许多问题需要解决。

SPM探测材料多场耦合

多铁材料中铁弹、铁电、铁磁序参量共存，因而展现出多场耦合行为，尤其是独特的磁电耦合特性。这为基于外场的多场耦合探测及调控提供了机遇，也使多铁材料在驱动、传感、存储、自旋电子等器件方面拥有巨大的应用前景。近期，《国家科学评论》（National Science Review, NSR）在线发表了湘潭大学刘运牙教授、澳大利亚新南威尔士大学Jan Seidel教授、中国科学院深圳先进技术研究院李江宇教授（通讯作者）共同撰写的观点文章《针尖下的多铁：在纳米尺度上探测磁电耦合》。文章全面介绍了可用于多铁材料的现有SPM方法，包括经典的压电原子力显微技术（PFM）、磁力显微技术（MFM）等，也包括近年来新发展的磁电力显微技术（MeFM）、导电原子力显微技术（c-AFM）等，并概述了这些显微技术所探测和观察到的新物理现象。过去20年中，基于SPM的多铁材料研究突飞猛进，但仍面临巨大挑战。通过对信号响应来源的机理分析，文章概述了在数据采集、数据后处理及分析等方面，目前所采用的最先进方法，并进一步评述了该领域的发展趋势，预测其可能向精确定量分析、高分辨率、人工智能等研究方向发展。

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Multiferroics under the tip: probing magnetoelectric coupling at the nanoscale

https://doi.org/10.1093/nsr/nwz056

来源：scichina1950 中国科学杂志社

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