内建自测试

内建自测试（英语：built-in self-test, BIST）是可测试性设计的一种实现技术。

简介内建自测试（英语：built-in self-test, BIST）是可测试性设计的一种实现技术。1

可测试性设计可测试性设计（英语：Design for Testability, DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。电路测试有时并不容易，这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过添加可测试性设计结构，例如扫描链等，内部信号可以暴露给电路外部。总之，在设计阶段添加这些结构虽然增加了电路的复杂程度，看似增加了成本，但是往往能够在测试阶段节约更多的时间和金钱。1

扫描链扫描链（英语：Scan chain）是可测试性设计的一种实现技术。它通过植入移位寄存器，使得测试人员可以从外部控制和观测电路内部触发器的信号值。1

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本词条内容贡献者为:

李嘉骞 - 博士 - 同济大学