一种航天器电子组件热循环试验方案确定方法

• 摘要：

  一种航天器电子组件热循环试验方案确定方法包括如下步骤:步骤1:热循环试验备选方案的确定;步骤2:热循环试验条件下航天器电子组件各元器件温度差ΔT₁计算;步骤3:航天器电子组件热循环试验有效性分析;步骤4:正常工作条件下航天器电子组件各元器件温度差ΔT₂计算;步骤5:航天器电子组件热循环试验损伤分析;步骤6:航天器电子组件正常工作损伤分析;步骤7:航天器电子组件热循环试验可接受性分析;步骤8:最终确定的热循环试验方案.该方法可避免热循环试验方案对航天器电子组件造成过试验与欠试验,降低航天器电子组件在宇航工程中的应用风险.

• 专利类型：

  发明专利

• 申请/专利号：

  CN201410270088.9

• 申请日期：

  2014.06.17

• 公开/公告号：

  CN104007351A

• 公开/公告日：

  2014-08-27

• 发明人：

  付桂翠 苏昱太 谷瀚天 万博

• 申请人：

  北京航空航天大学

• 主分类号：

  G01R31/00(2006.01)I,G,G01,G01R,G01R31

• 分类号：

  G01R31/00(2006.01)I,G,G01,G01R,G01R31,G01R31/00

• 主权项：

  一种航天器电子组件热循环试验方案分析确定方法,其特征在于:利用热分析、Coffin‑Manson模型以及全寿命周期理论,基于热循环试验有效性及热循环试验可接受性,分析热循环试验方案对指定航天器电子组件的有效性及损伤,根据本方法流程,迭代判断,最终确定合适的航天器电子组件热循环试验方案,该方法具体步骤如下:步骤1:热循环试验备选方案的确定;步骤2:热循环试验条件下航天器电子组件各元器件温度差ΔT₁计算;步骤3:航天器电子组件热循环试验有效性分析,若热循环试验有效性为100％,则进行步骤4,若热循环试验有效性不为100％,则加严条件,重新进行步骤2;步骤4:正常工作条件下航天器电子组件各元器件温度差ΔT₂计算;步骤5:航天器电子组件热循环试验损伤分析;步骤6:航天器电子组件正常工作损伤分析;步骤7:航天器电子组件热循环试验可接受性分析,判断航天器电子组件中是否存在正常器件的全寿命周期损伤率D>1,若不存在,则进行步骤8,若存在,则放宽条件,重新进行步骤2;步骤8:最终确定的热循环试验方案为针对具体航天器电子组件有效且合理的热循环试验方案.