一种密封电连接器低温泄漏判据的确定方法

• 摘要：

  本发明涉及一种密封电连接器低温泄漏判据的确定方法.包括以下步骤:步骤一:推导漏率计算公式;步骤二:根据标准规定的泄漏判据,计算常温常压下最大理想漏孔;步骤三:开展电连接器漏孔有限元仿真;步骤四:根据低温下漏孔尺寸和漏率公式,计算低温下泄漏判据.本发明适用于分析密封电连接器低温漏率,以常温下密封电连接器漏率判据为基础,利用典型漏孔漏率计算公式及有限元分析方法,确定合理的密封电连接器低温泄漏判据.此方法属于密封电连接器低温密封性试验与仿真技术领域.

• 专利类型：

  发明专利

• 申请/专利号：

  CN201610521977.7

• 申请日期：

  2016.07.05

• 公开/公告号：

  CN106197887A

• 公开/公告日：

  2016-12-07

• 发明人：

  付桂翠 李颜若玥 万博 苏昱太

• 申请人：

  北京航空航天大学

• 主分类号：

  G01M3/26(2006.01)I,G,G01,G01M,G01M3

• 分类号：

  G01M3/26(2006.01)I,G01M3/36(2006.01)I,G,G01,G01M,G01M3,G01M3/26,G01M3/36

• 主权项：

  一种密封电连接器低温泄漏判据的确定方法,其特征在于:基于漏率计算公式和有限元仿真,通过常温常压下的漏率判据得到理想最大漏孔,并展开有限元仿真得到低温下形变量,最后根据低温下漏孔尺寸计算漏率,得到低温下的泄漏判据.该方法具体步骤如下:步骤一:漏率计算公式推导及参数确定步骤二:根据标准规定的泄漏判据,计算常温常压下最大理想漏孔步骤三:电连接器漏孔有限元仿真步骤四:根据低温下漏孔尺寸和漏率公式,计算低温下泄漏判据.