用于光学合成孔径成像系统共相探测的色散哈特曼传感器

• 摘要：

  本发明公开了一种用于光学合成孔径成像系统共相探测的色散哈特曼传感器,由干涉区域选定光阑、色散元件阵列、透镜阵列、CCD相机组成;干涉区域选定光阑上有若干个和相邻两子孔径边缘相对应的通光孔,每个通光孔在色散元件阵列上有一个对应的色散元件,透镜阵列上也均有与色散元件相匹配的透镜;光学合成孔径成像系统的宽带平面波前首先经过干涉区域选定光阑选出若干组相邻两子孔径边缘光束,再由各组对应的色散元件对其色散,最终光束组通过各自的透镜在同一相机靶面上同时形成独立的色散条纹,实现了同时对多个子孔径间的平移误差进行探测.

• 专利类型：

  发明专利

• 申请/专利号：

  CN201510590076.9

• 申请日期：

  2015.09.16

• 公开/公告号：

  CN105300664A

• 公开/公告日：

  2016-02-03

• 发明人：

  饶长辉 李杨 王胜千

• 申请人：

  中国科学院光电技术研究所

• 主分类号：

  G01M11/02(2006.01)I,G,G01,G01M,G01M11

• 分类号：

  G01M11/02(2006.01)I,G,G01,G01M,G01M11,G01M11/02

• 主权项：

  用于光学合成孔径成像系统共相探测的色散哈特曼传感器,由干涉区域选定光阑(1)、色散元件阵列(2)、透镜阵列(3)、相机CCD(4)组成,其特征在于:干涉区域选定光阑(1)上有若干个和相邻两子孔径边缘相对应的通光孔,每个通光孔在色散元件阵列(2)上有一个对应的色散元件,透镜阵列(3)上也均有与色散元件相匹配的透镜;光学合成孔径成像系统的宽带平面波前首先经过干涉区域选定光阑选出若干组相邻两子孔径边缘光束,再由各组对应的色散元件对其色散,最终光束组通过各自的透镜在同一相机CCD(4)靶面上同时形成独立的色散条纹,实现了同时对多个子孔径间的平移误差进行探测.