第二届表面与显微技术国际论坛(IFSM2017)在哈举行

　　8月7日至9日，由国家自然科学基金委员会(NSFC)、中国光学工程学会(CSOE)、中国仪器仪表学会（CIS）、哈尔滨工业大学、哈尔滨市科学技术协会联合主办，中国计量测试学会计量仪器专业委员会、中国宇航学会光电专业委员会承办，天津津航技术物理研究所、中国科学院分子影像重点实验室联办的第二届表面与显微技术国际论坛(IFSM2017)在哈尔滨市举行。大会名誉主席由清华大学金国藩院士、北京理工大学周立伟院士和天津大学姚建铨院士担任，上海理工大学的庄松林院士担任大会主席。大会共同主席由英国皇家工程院院士、牛津大学Tony Wilson教授，哈尔滨工业大学谭久彬教授，中国科学院自动化研究所田捷研究员担任。

论坛会场

　　英国哈德斯菲尔德大学高峰教授、印度卡纳塔克邦国家技术研究所Narendranath教授、台湾阳明大学高辅仁教授、美国杜克大学姚俊杰教授、香港城市大学王立代教授等境外代表，以及北京大学、清华大学、浙江大学、中国科学技术大学、复旦大学、上海交通大学、中山大学、哈尔滨工业大学等国内18所著名高校和国家纳米科学中心、中国计量科学研究院、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所等9家科研单位的专家学者共襄盛会。

　　本次学术论坛为国内首个光学显微成像的专题会议，旨在汇聚从事光学显微技术的专业人员开展学术交流，为科研工作者提供一个展示前瞻性观点，探讨关键技术的平台。会议主题不仅包括光学显微技术研究与应用领域，如：纳米显微镜技术、高光谱成像技术、非线性激发显微成像、荧光相关光谱技术、光学相干层析成像、共聚焦显微技术、白光干涉显微技术、暗场显微成像技术、差分成像技术、相衬显微技术、多光子显微技术和超分辨成像技术等；还包括与显微仪器密切相关的表面科学与工程的研究与应用进展。

英国皇家工程院院士、牛津大学Tony Wilson教授致开幕辞

　　大会于8月8日上午正式开幕。开幕式由大会程序委员会主席、哈尔滨工业大学刘俭教授主持，大会共同主席Tony Wilson教授致开幕辞。会议组织委员会主席、哈尔滨市科学技术协会副主席赵晓丹等150余名与会代表就该领域重大前沿科学、理论和技术突破问题以及需要进行国际合作研究的重要内容集中进行了研讨。

与会专家互动交流

　　台湾阳明大学高辅仁教授、中国科学院上海应用物理研究所肖体乔教授、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所杨怀江研究员、布鲁克公司苏全明博士、哈尔滨工业大学刘俭教授等5位国内外专家分别做了题为《Stimulated Gain and Spontaneous Loss Imaging in Pump-Probe Microscopy》《X-ray Microtomography with High Brightness Synchrotron Radiation Light Source》《Recent Advances on Medium Aided Scattering Confocal Microscopy》《Scanning Probe Microscopy Based Spectroscopy Measurement for Nanoscale Chemical Identification》《Ultra—precise optical fabrication in NA0.75 lithography projection objective》的大会报告，报告反映出国际和国内本领域最先进的发展状况，引起了与会代表们积极讨论和强烈反响。

　　会议共组织了6个分会，专题邀请报告30篇、口头报告6篇。本次会议收到论文75篇，会议论文部分还被推荐到《Journal of microscopy》《红外与激光工程》等合作期刊，其余发表在SPIE文集。

　　哈尔滨市科协组织在哈高校相关领域专家参加了论坛，并组织哈尔滨芯明天科技有限公司等科技企业向与会人员展示了相关科技产品。