MOF薄膜用于硫化氢气体荧光增强型探针和图案防伪学术资讯

来源：中国科学材料

硫化氢气体是一种常见的工业气体，也是一种大气污染物，因此对硫化氢气体的实时检测具有十分重要的意义。当前报道的硫化氢荧光探针大多是在溶液中进行探测的，能检测硫化氢气体的荧光探针还鲜有报道。

近日，浙江大学钱国栋教授等人在Science China Materials上发表研究论文，他们利用后修饰的具有荧光发光潜力的薄膜，MIL-100(In)@Eu3+/Cu2+，在室温下首次实现了对硫化氢气体的荧光增强型检测，检测限可达0.535 ppm。此探针的设计是基于硫化氢气体与Cu2+的强结合力。当形成CuS之后，有机配体与Eu3+之间的“天线效应”恢复，使得Eu3+的荧光发射增强。这个荧光探针的性能可以与溶液中检测硫化氢的荧光探针相媲美，并且不输于传统的半导体型硫化氢气体探针。

图1 MIL-100(In)@Eu3+/Cu2+荧光探针的制备。

此外，由于MIL-100(In)薄膜表面平整度高且具有未配位的羧基基团，钱教授等人还利用稀土离子溶液在其表面上实现了多色防伪图案。

图 2 用镧系离子墨在MIL-100(In) 膜上书写的图案在自然光 (a1)和紫外光(a2–a5)下的照片；图案浸入热水后在自然光 (b1)和紫外光(b2–b5)下的照片。a2: Eu3+墨; a3: Tb3+墨; a4: Dy3+墨。

该研究成果最近发表于Science China Materials, 2019, 10.1007/s40843-019-9457-5。

来源：SciChinaMater 中国科学材料

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