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科技工作者之家 2021-10-06
尽管目前各种钙钛矿基闪烁体取得了一些进展,但其分辨率仍然限制在100到500 μm的范围内,远不能和已达到亚微米级分辨率的单晶闪烁体相比。
我们发现闪烁层的厚度是决定空间分辨率的关键因素。
一方面,厚层将在前表面和后表面上产生两个图像,最终在电荷耦合器件(CCD)平面上重叠,导致强度扩散函数展宽,并随之降低分辨率。
另一方面,薄层无法沉积足够的X射线光子,所以有限的发光通量无法提供具有高对比度的清晰图像。
因此,选择适当厚度的闪烁屏是提高空间分辨率的关键。
研究方法济南大学前沿交叉科学研究院(iAIR)张玉海教授课题组与山东大学刘宏教授课题组合作,通过利用钙钛矿纳米片的自组装行为,实现了对闪烁屏厚度的精确控制(8 ~ 50微米)。
首先在室温下通过共沉淀法制备了CsPbBr3纳米片的浓缩胶体(~135 mg/mL);通过滴注以及自组装在室温下形成了无裂纹闪烁屏,显示出高的内部和外部PL QY(分别为84.5%和75.1%)。
通过改变钙钛矿胶体的浓度,制备了不同厚度的闪烁屏,并分别对铜网进行成像。
成果简介1.通过小角XRD的实时测试,验证了纳米片的自组装行为,并提出了详细的自组装过程的实验模型。
2.基于自组装CsPbBr3纳米片的X射线探测器显示高灵敏度,检测限低至27 nGy/s,比医疗诊断的常规剂量低两个数量级。
使用15 μm厚的屏幕进行射线照相,从而获得高分辨率的X射线图像。
3.作者通过增加成像镜头的数值孔径,进一步提高了分辨率,最终获得了26 μm的分辨能力。
图文导读图1. 制备的CsPbBr3纳米片的材料表征。
(a) 胶体样品的光致发光(PL,在365 nm处激发)光谱、稳态吸收、PL激发(PLE,在525 nm处监测发射)曲线。
插图是紫外光下的浓缩胶体(135 mg / mL)。
(b) CsPbBr3薄膜的X射线衍射图,显示出一系列等距的自组装特征峰(星号所标示)。
图2. CsPbBr3纳米片的自组装过程的原位表征。
环境(a)和紫外光(b)下的薄膜照片。
底部照片是薄膜横截面的激光共聚焦显微镜图像,显示出15 μm的均匀厚度。
(c) 薄膜的扫描电子显微镜(SEM)图像。
(d) 组装的CsPbBr3纳米片的TEM图像。
(e) 实时小角度X射线衍射图显示,在胶体的干燥过程中,堆叠的CsPbBr3纳米片出现了一系列的平面间衍射峰。
(f-h)11.9°的特征峰的衍射强度、峰位和半峰宽(FWHM)随时间的变化曲线。
内部插图显示了每个阶段的纳米片特征。
图3. 自组装薄膜的能量转移研究。
(a) 分别在460 nm(蓝点)和510 nm(绿点)监测时,薄膜组装的时间分辨PL衰减曲线。
内部插图显示了从0到20 ns的放大时间窗口,其中510 nm发射状态的上升轨迹被清楚地显示出来。
(b) 示意图说明了受激发的薄纳米片的两种形式的激子复合路径,包括独立辐射衰减和能量传递到厚纳米片的FRET路径。
(c) CsPbBr3纳米片在1.9–96.4 μGy/s不同辐照剂量下的X射线诱导的辐射发光(RL)光谱。
插图是固态薄膜的RL图像。
(d) 在低剂量区域RL强度与剂量率的关系。
在信噪比为3时,从拟合线的斜率得出检测极限。
图4. 通过使用组装的薄膜进行X射线成像。
(a) 高分辨率X射线成像系统的示意图。
(b) 用于X射线成像的铜网的照片(上图)和显微照片(下图)。
在X射线成像之前,该铜网被包裹在黑色胶带中。
在(c)5×和(f)20×的不同放大倍数的物镜下铜网的X射线图像。
插图显示强度扩散函数(白点)与高斯拟合曲线(红线),FWHM被认为是分辨率。
(d) 在不同厚度(8 μm或38 μm)的闪烁屏上获得的X射线图像。
(e) 分辨率和厚度之间的关系表明最佳厚度为15 μm。
(g) 实验(绿点)和理论(黑点)分辨率与数值孔径(NA)值的关系显示出一致的趋势,稍有微小偏差。
(e)和(g)中的误差线是通过平均6个FWHMs得到的。
(h)与以前的工作比较,显示钙钛矿闪烁屏的分辨率和厚度都有一个数量级的提高。
作者简介沈德鹏,济南大学前沿交叉研究院博士后,研究方向是先进发光材料;钙钛矿结构材料,纳米晶材料。
chm_shendp@ujn.edu.cn张玉海,济南大学前沿交叉科学研究院教授、博士生导师。
长期从事多种发光材料的开发与应用,包括稀土掺杂纳米晶,量子点,以及低维钙钛矿材料。
来源:纳米人
原文链接:http://mp.weixin.qq.com/s?__biz=MzUxMDg4NDQ2MQ==&mid=2247564278&idx=2&sn=d7bb62524920753c9315abd4754bf759
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